D06400 - SEMI D64 - Test Method for Measuring the Spatial Contrast Ratio of Flat Panel Display Revision:SEMI D64-0723 - Current manufacturing

manufacturing

本文書では，標準状態のもとでPOU精製器およびフィルタのパーティクル発生性能の比較を行うために考案された試験方法について説明する。この手順では，一般に半導体用途のインラインガスフィルタおよび精製器に適用されている凝縮核カウンタ（CNC）を利用する。本試験方法は，室温で動作させる様々な種類の機能部品に適用される。精製器の定格フローは，0～50標準リットル／分（slm）の範囲内でなければならない。フィルタにおける流量は 0～100 標準リットル／分（slm） の範囲でなければならない。<0} 本方法をより大流量の機能部で使用する場合

Changes were made to Section 4

SEMI 3D4 — Guide for Metrology for Measuring Thickness

Adapter plates are subsystems of the process equipment and will conform to many of the design practices employed by primary system equipment suppliers

D06400 - SEMI D64 - Test Method for Measuring the Spatial Contrast Ratio of Flat Panel Display Revision:SEMI D64-0723 - Current manufacturingContrast has a significant influence on the perceived image quality in display devices. For several decades, physical contrast metrics such as contrast ratio (CR) and contrast modulation (CM) have been widely used to quantify the contrast performance of display devices. A robust standardized test method for measuring the average picture level (APL) contrast ratios of flat panel display (FPD) systems is required to enable quality control in high volume