T01400 - SEMI T14 - Specification for Micro ID on 300 mm Silicon Wafers Revision:SEMI T14-1104 - Superseded storage and identification of the

storage and identification of the LCs

1-0704 - Specification for the Semiconductor Equipment Manufacturing Information Tagging Standard E36

so called saw marks

This method is used in general FPD production to test the resistance of color filters to heat

本スタンダードの範囲は（§ 11に規定してある）GEMモデルに準拠するSEMI装置通信スタンダード2（SECS-II）によってホストが認識する，搬送または保管または搬送と保管の両方の組合せをサポートする材料搬送保管装置の使用法および説明に限定されている。本スタンダードはSECS通信リンクを通じて装置がどのように見えるかを定義しているが，装置の内部オペレーションは定義していない。ここにはこのクラスの装置すべての基準として個別TRANSFERコマンド状態モデルおよび搬送保管システムコントローラ（TSSC）状態モデルが含まれている。

T01400 - SEMI T14 - Specification for Micro ID on 300 mm Silicon Wafers Revision:SEMI T14-1104 - Superseded storage and identification of theThis specification was technically approved by the global Traceability Committee and is the direct responsibility of the Japanese Traceability Committee. Current edition approved by the Japanese Regional Standards Committee on July 23, 2004. Initially available at www. semi. org September 2004; to be published November 2004. NOTICE: The designation number of T14 was updated during the 0705 cycle to reflect the creation of T14. 1. The purpose of this